半導體器件測試系統(tǒng)<p>實現(xiàn)耐壓2.5KV/2.5KA碳化硅元器件的靜態(tài)全參數(shù)測試，實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)列表和圖形展示。&nbsp;&nbsp; 特大功率碳化硅器件測試系統(tǒng)主要針對新能源、軌道交通及鐵路等方面用碳化硅二極管、IGBT等模塊進行測試。 &nbsp;<br/>主要技術(shù)參數(shù)：&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp; &nbsp;<br/>最 大測試電流：2500A<br/>最 大測試電壓：2500V<br/>電壓分辨率：1mV<br/>電流分辨率：1nA<br/>大電流指標重復測試精度：2%以內(nèi)<br/>專用測試夾具<br/><br/>是目前市場上唯 一能夠?qū)Υ挝⑽搽娖街?500V2500A 的大功率器件進行表征的綜合解決方案。</p>半導體器件測試系統(tǒng)